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內(nèi)部信號源也可用于測試頻率轉(zhuǎn)換器件如混頻器或變頻器，測試時除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個信號源對掃描LO測試十分有用，在測試時LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描，但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比，使用從VNA內(nèi)部信號源引出的信號作為LO信號在測試速度上有幾位明顯的改善（使用PNA-X的測試速度比傳統(tǒng)方法的測試速度可5倍）。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

基于VNA的測試系統(tǒng)為測量無線通信和航空/系統(tǒng)中所使用的射頻和微波元件提供了動力。與傳統(tǒng)VNA相比，Agilent PNA-X微波網(wǎng)絡(luò)分析儀的先進體系結(jié)構(gòu)具有更大的靈活性，使工程師們可以通過一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內(nèi)主要的增加項是第二個信號源和內(nèi)部寬帶信號合路器，從而簡化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數(shù)、壓縮和諧波的傳統(tǒng)單信號源測量之外，兩個信號源還可用于IMD、相位隨驅(qū)動的變化、熱態(tài)S參數(shù)和真實激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應(yīng)當(dāng)前器件的測試要求。

探頭N1501A-104，頻率500MHz至50GHz，細(xì)長設(shè)計融合了出色的堅固性和耐高溫性以及寬頻率范圍。探頭的探針端和連接器端都經(jīng)過密封，因此是堅固耐用的探頭。探頭能夠承受–40至 +200℃的溫度范圍，因此可以測量材料特性隨頻率和溫度的變化。探頭經(jīng)過熱壓處理，非常適合滅菌要求很高的食品、和化工行業(yè)應(yīng)用。同軸探頭法的優(yōu)點：可利用Ecal實時更新校準(zhǔn)，方便易用、基本無需對樣品加工、非破壞性、頻率寬.

傳輸線法需要將材料置于一部分封閉的傳輸線內(nèi)部。線路通常是一段矩形波導(dǎo)或同軸空氣線。介電常數(shù)根據(jù)反射信號 (S 11) 和發(fā)射信號 (S 21) 的測量結(jié)果計算得出。