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校準過程重要，但是校準結果的確認一樣重要，對于校準結果的確認，需要從各個數據和校準方式著手。校準完成以后，取下開路元件，正確的校準方式下，測試曲線會在Smith Chart的開路點，其次就是對負載校準特性的檢查，校準后連接好測試端口和負載件。

這些方面可以作為校準網絡分析儀的參考標準，如果企業自身就具備較為的人員，以及體系比較完善的校準方案，可以從這幾個方面來進行操作，如果并具備這樣的條件和能力，也可以讓第三方校準機構來處理，具體方案可以根據企業需求來制定。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

矢量網絡分析儀（VNA）是測定元件特性經常使用的儀器。傳統VNA包含一個給被測器件（DUT）和多測量接收機提供激勵的射頻信號發生器，以測量信號在正向傳輸和反向傳輸時入射、反射和傳輸信號（圖1）。信號源在固定功率電平進行掃頻以測量S參數，而在固定頻率上對其功率掃描，可以測量放大器的增益壓縮和AM-PM轉換。這些測量能測定線性和簡單非線性器件的性能。

對于基本的S參數和壓縮測試，信號源和調諧到相同的頻率。不過，通過使信號源和接收機頻率偏移，將接收機調諧至激勵頻率的整數倍，也能測出放大器的諧波性能。使信號源和接收機頻率偏移的能力同樣可以測量頻率轉換器件（如混頻器和變頻器）的幅度、相位和群延遲性能。

基于VNA的測試系統為測量無線通信和航空/系統中所使用的射頻和微波元件提供了動力。與傳統VNA相比，Agilent PNA-X微波網絡分析儀的先進體系結構具有更大的靈活性，使工程師們可以通過一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內主要的增加項是第二個信號源和內部寬帶信號合路器，從而簡化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數、壓縮和諧波的傳統單信號源測量之外，兩個信號源還可用于IMD、相位隨驅動的變化、熱態S參數和真實激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應當前器件的測試要求。