天津國電儀訊科技有限公司
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主營:測試儀器
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反射測試中,定向耦合器對于被測件反射信號而言是正向連接,定向耦合器耦合端輸出反映反射信號信息。
網絡分析儀測試反射特性時,由于定向耦合器有限的方向性影響,耦合器耦合端會包含泄露的輸入激勵信號,該信號會與反射信號進行矢量疊加,造成反射指標測試誤差。被測件匹配性能越好,定向耦合器方向性對測試影響越大。由功分器,定向耦合器及輸出端得到的信號輸入到相應接收機進行處理,為對這些信號進行分析,網絡分析儀內置多臺接收機。
兩個內置信號源的性能增強也會簡化放大器和混頻器測量。例如,測試端口可利用的大信號功率通常為+13至+20 dBm(取決于型號和頻率)。這對將放大器驅動到非線性區很有幫助,并且在把信號源用作測試混頻器的LO信號時也經常要這樣。這兩個內置信號源的諧波成分也非常低(通常為–60 dBc 或更低),從而提高諧波和IMD測量的精度。此外,典型置為40 dB的功率掃描范圍使得在表征放大器的特性時很容易就可以讓放大器從線性工作范圍轉化到非線性工作范圍。
內部信號源也可用于測試頻率轉換器件如混頻器或變頻器,測試時除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個信號源對掃描LO測試十分有用,在測試時LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描,但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發生器相比,使用從VNA內部信號源引出的信號作為LO信號在測試速度上有幾位明顯的改善(使用PNA-X的測試速度比傳統方法的測試速度可5倍)。
吳經理先生
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