天津國電儀訊科技有限公司
經(jīng)營模式:生產(chǎn)加工
地址:天津市西青經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)賽達九緯路七號電子城大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)園10號樓314-315室
主營:測試儀器
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遠場測試技術(shù)雖然早成熟,但是由于其對大測試場地和電磁環(huán)境的特殊要求,測試非常不方便,人們一方面用緊縮場產(chǎn)生平面波來模擬無線長度的場地,另一方面則是用近場測試代替遠場測試。
近場測量的原理是在一個面上采集待測天線近場數(shù)據(jù),然后通過近遠場變換算法,得到待測天線遠場輻射特性。根據(jù)取樣面的形式,可分為平面掃描、極平面掃描、柱面掃描和球面掃描技術(shù),平面近場測量使用為普遍。近場測量的原始數(shù)據(jù)需要包含幅度相位信息,儀器設(shè)備主要是矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,或測量接收機、信號源等組成。
內(nèi)部信號源也可用于測試頻率轉(zhuǎn)換器件如混頻器或變頻器,測試時除輸入激勵之外還需要LO信號。第二個信號源對掃描LO測試十分有用,在測試時LO信號連同射頻輸入信號一起被掃描,但保證RF信號和LO信號的頻率差是固定的。這個方法常用于測量寬帶變頻器的前端元件。與使用外部信號發(fā)生器相比,使用從VNA內(nèi)部信號源引出的信號作為LO信號在測試速度上有幾位明顯的改善(使用PNA-X的測試速度比傳統(tǒng)方法的測試速度可5倍)。
基于VNA的測試系統(tǒng)為測量無線通信和航空/系統(tǒng)中所使用的射頻和微波元件提供了動力。與傳統(tǒng)VNA相比,Agilent PNA-X微波網(wǎng)絡(luò)分析儀的先進體系結(jié)構(gòu)具有更大的靈活性,使工程師們可以通過一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內(nèi)主要的增加項是第二個信號源和內(nèi)部寬帶信號合路器,從而簡化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數(shù)、壓縮和諧波的傳統(tǒng)單信號源測量之外,兩個信號源還可用于IMD、相位隨驅(qū)動的變化、熱態(tài)S參數(shù)和真實激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應(yīng)當前器件的測試要求。
吳經(jīng)理先生
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