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阻抗測量：在時域中，系統內每個器件的 S11 都可以被看作是對沖激或階躍函數的響應。這種時域響應可以提供每個電路元器件的位置和實際阻抗。選通：通過時域選通，你可以單獨查看每個元器件的響應，將注意力放到你所關注的響應上，從而簡化分析工作，更容易地進行設計和調試。

技能2：頻譜分析過去，工程師們使用頻譜分析儀和信號發生器來查找雜散。使用外部頻譜分析儀查找雜散需要將器件連接到信號分析儀和信號發生器上，通過掃描來查找雜散，較為費時。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

的幅度和相位測量對應用在現代化無線和航空/系統設備中的器件至關重要。在設計階段，系統模擬需要高度的元件表征來保證系統滿足其性能要求。在生產制造中，的測量驗證每一個元件是否滿足其公布的指標。

S參數在射頻元件（如濾波器、放大器、混頻器、天線、隔離器和傳輸線）測量中使用為廣泛。測量結果能確定射頻器件在正向和反向傳輸信號時其以復數值（幅度和相位）表示的反射和傳輸性能。它們描述了射頻元件的線性特性，這對全系統模擬來說是有很有必要的一部分，但要對全系統做更加完全的模擬時，僅僅進行S參數測試是不夠的，諸如器件特性隨頻率變化而呈現出的幅度響應不平坦性或相位響應斜率的不恒定性等這些偏差都會引起嚴重系統性能下降。

基于VNA的測試系統為測量無線通信和航空/系統中所使用的射頻和微波元件提供了動力。與傳統VNA相比，Agilent PNA-X微波網絡分析儀的先進體系結構具有更大的靈活性，使工程師們可以通過一次連接便能測量各種各樣的元件。PNA-X內主要的增加項是第二個信號源和內部寬帶信號合路器，從而簡化了放大器、混頻器和變頻器的測量。除S參數、壓縮和諧波的傳統單信號源測量之外，兩個信號源還可用于IMD、相位隨驅動的變化、熱態S參數和真實激勵模式的測試。PNA-X端口上信號源的高功率輸出、低諧波和寬功率掃描范圍的屬性完全適應當前器件的測試要求。