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近場掃描技術(shù)的優(yōu)點如下：

(1) 理論嚴格:包含探頭特性的全部數(shù)據(jù)都被表示為麥克斯韋方程解的線性組合,而未引入小角度,標量繞射等近似解。

(2) 精度高:消除了遠場測量的近距效應,各種誤差源可以檢測并補償,信噪比高,重復性好。

(3) 信息量大:一次掃描可獲得整個空間全部信息,如幅度、相位、極化、三維方向圖等。

(4) 診斷功能:通過重建口徑場,可以發(fā)現(xiàn)常規(guī)遠場測量難以發(fā)現(xiàn)的故障。對相控陣天線，通過診斷測試對AUT口徑面存在的失效、超差、誤碼等進行識別、標定，為更換器件修正通道誤差提供依據(jù)。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

直接測量方案由成都玖錦的矢量網(wǎng)絡分析儀VNA1000A、掃描支架、近場測試探頭、待測天線支架、主控PC、掃描控制器以及微波暗室組成。將待測天線AUT作為發(fā)射端，測試探頭作為接收端（可根據(jù)實際情況變換）。VNA1000A的一個端口發(fā)射信號，另一端口作為接收端口。在各掃描點測量接收信號b和發(fā)射信號a的比值（幅度，相位）。在必要的情況下，可以用功率放大器將發(fā)射信號放大，在接收天線后采用低噪聲放大器提高系統(tǒng)靈敏度。

頻率200MHz至20GHz，采用玻璃金屬密封結(jié)構(gòu)，能夠防止化學品的腐蝕或摩擦。探頭能夠承受–40至 +200℃ 的溫度范圍，可測量材料特性隨頻率和溫度的變化。大邊緣使探頭能夠?qū)ζ矫婀腆w材料、液體和半固體材料進行測量。

頻率500MHz至50GHz，能夠輕松地裝進發(fā)酵罐、化學反應室或其他小孔徑的設備中。同時，細長的設計還使它能夠適用于更小的樣品體積。該探頭適用于測量液體和柔潤的半固體。對于可澆鑄材料，探頭的價格足夠經(jīng)濟，可伸入到材料中無需取回。這種探頭用作消耗品，因此以三個一套的方式提供，還可以另購備件。