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遠場測試技術雖然早成熟，但是由于其對大測試場地和電磁環境的特殊要求，測試非常不方便，人們一方面用緊縮場產生平面波來模擬無線長度的場地，另一方面則是用近場測試代替遠場測試。

近場測量的原理是在一個面上采集待測天線近場數據，然后通過近遠場變換算法，得到待測天線遠場輻射特性。根據取樣面的形式,可分為平面掃描、極平面掃描、柱面掃描和球面掃描技術，平面近場測量使用為普遍。近場測量的原始數據需要包含幅度相位信息，儀器設備主要是矢量網絡分析儀，或測量接收機、信號源等組成。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

無論在研發還是在生產制造中，工程師們在測試射頻元件時都面臨許多重大挑戰。在研發過程中，更快并以較少的重復工作來解決設計難題至關重要。生產制造過程中，需要在保持精度和產出率的同時，縮短測試時間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網絡分析儀。由于PNA-X的先進體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網絡分析儀相關的傳統散射參數（S參數）的各種測量進行配置。一些內置組件（如第二個信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線性特性進行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。

與其它方法相比，使用VNA進行以上測量有三個優點。首先，只用一臺測試儀器，只進行一次連接便能對全部參數進行測量：S參數、增益壓縮、輸出諧波、IMD等等。其次，與使用頻譜分析儀相比，用功率計對VNA進行校準之后，測量精度更高。后，如果使用一臺頻譜分析儀和兩個獨立的信號源進行同樣的測試，完成測試需要花幾分鐘的時間，但使用PNA-X只需0.6秒。

相位與驅動的關系是用PNA-X很容易完成的另一種常見的雙信號源測試。這個測試參數表征的是當在相鄰通道或帶外存在大信號時，放大器處理小信號的能力。測試的方法是把不同頻率的一個大信號和一個小信號合在一起然后送至被測放大器（AUT），然后在改變大信號的功率時（使用功率掃描），測量小信號的S21相位。