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反射特性是被測件反射與輸入激勵的相對比值， 網絡分析儀要完成該項測試，需分別得到被測件輸入激勵信號和測試端口反射信號。

網絡分析儀內部信號源負責產生滿足測試頻率和功率要求的激勵信號，信號源輸出通過功分器均分為兩路信號，一路直接進入R接收機，另一路通過開關輸入到被測件相應測試口，所以，R 接收機測試得到被測輸入信號信息。

激勵信號輸入到被測件后會發射反射， 被測件端口反射信號與輸入激勵信號在相同物理路徑上傳播，定向耦合器負責把同個物理路徑上相反方向傳播的信號進行分離，提取反射信號信息，進入A接收機。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

無論在研發還是在生產制造中，工程師們在測試射頻元件時都面臨許多重大挑戰。在研發過程中，更快并以較少的重復工作來解決設計難題至關重要。生產制造過程中，需要在保持精度和產出率的同時，縮短測試時間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網絡分析儀。由于PNA-X的先進體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網絡分析儀相關的傳統散射參數（S參數）的各種測量進行配置。一些內置組件（如第二個信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線性特性進行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。

兩個內置信號源的性能增強也會簡化放大器和混頻器測量。例如，測試端口可利用的大信號功率通常為+13至+20 dBm（取決于型號和頻率）。這對將放大器驅動到非線性區很有幫助，并且在把信號源用作測試混頻器的LO信號時也經常要這樣。這兩個內置信號源的諧波成分也非常低（通常為–60 dBc 或更低），從而提高諧波和IMD測量的精度。此外，典型置為40 dB的功率掃描范圍使得在表征放大器的特性時很容易就可以讓放大器從線性工作范圍轉化到非線性工作范圍。