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校準過程重要，但是校準結果的確認一樣重要，對于校準結果的確認，需要從各個數據和校準方式著手。校準完成以后，取下開路元件，正確的校準方式下，測試曲線會在Smith Chart的開路點，其次就是對負載校準特性的檢查，校準后連接好測試端口和負載件。

這些方面可以作為校準網絡分析儀的參考標準，如果企業自身就具備較為的人員，以及體系比較完善的校準方案，可以從這幾個方面來進行操作，如果并具備這樣的條件和能力，也可以讓第三方校準機構來處理，具體方案可以根據企業需求來制定。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

反射特性是被測件反射與輸入激勵的相對比值， 網絡分析儀要完成該項測試，需分別得到被測件輸入激勵信號和測試端口反射信號。

網絡分析儀內部信號源負責產生滿足測試頻率和功率要求的激勵信號，信號源輸出通過功分器均分為兩路信號，一路直接進入R接收機，另一路通過開關輸入到被測件相應測試口，所以，R 接收機測試得到被測輸入信號信息。

激勵信號輸入到被測件后會發射反射， 被測件端口反射信號與輸入激勵信號在相同物理路徑上傳播，定向耦合器負責把同個物理路徑上相反方向傳播的信號進行分離，提取反射信號信息，進入A接收機。

無論在研發還是在生產制造中，工程師們在測試射頻元件時都面臨許多重大挑戰。在研發過程中，更快并以較少的重復工作來解決設計難題至關重要。生產制造過程中，需要在保持精度和產出率的同時，縮短測試時間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網絡分析儀。由于PNA-X的先進體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網絡分析儀相關的傳統散射參數（S參數）的各種測量進行配置。一些內置組件（如第二個信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線性特性進行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。