天津國(guó)電儀訊科技有限公司
經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)加工
地址:天津市西青經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)賽達(dá)九緯路七號(hào)電子城大數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)園10號(hào)樓314-315室
主營(yíng):測(cè)試儀器
業(yè)務(wù)熱線:022-58530359
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定向耦合器是網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)部連接端口的個(gè)射頻部件,將通過(guò)端口的前向信號(hào),耦合輸出給參考接收機(jī)a通道,將進(jìn)入端口的反向信號(hào),耦合輸出給測(cè)量接收機(jī)b通道。接收機(jī)是由混頻器、本振、濾波器及ADC和數(shù)字處理構(gòu)成,混頻濾波后的中頻信號(hào)進(jìn)行矢量I/Q分解,獲得波量a、b的幅度和相位值。各個(gè)b/a波量之間的比值,得到S參數(shù)值。各個(gè)接收機(jī)通道是相參的,使用同一個(gè)本振且同步測(cè)試。信號(hào)源提供端口輸出信號(hào),衰減器選件應(yīng)用在較高增益的放大器測(cè)量。
隨機(jī)誤差的三個(gè)主要來(lái)源:
<1>儀器噪聲誤差:是分析儀元件中產(chǎn)生的不希望的電擾動(dòng)。這些擾動(dòng)包括由于接收機(jī)的寬帶本底噪聲引起的低電平噪聲;由于測(cè)試裝置內(nèi)部本振源的本底噪聲和相位噪聲引起的高電平噪聲或跡線數(shù)據(jù)抖動(dòng)。
<2>開(kāi)關(guān)重復(fù)性誤差:分析儀中使用了用來(lái)轉(zhuǎn)換源衰減器設(shè)置的機(jī)械射頻開(kāi)關(guān),有時(shí)機(jī)械射頻開(kāi)關(guān)動(dòng)作時(shí),觸點(diǎn)的閉合不同于其上次動(dòng)作的閉合。在分析儀你內(nèi)部出現(xiàn)這種情況時(shí),便會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)量的精度。
<3>連接器重復(fù)性誤差:是由于連接器的磨損會(huì)改變電性能。
與其它方法相比,使用VNA進(jìn)行以上測(cè)量有三個(gè)優(yōu)點(diǎn)。首先,只用一臺(tái)測(cè)試儀器,只進(jìn)行一次連接便能對(duì)全部參數(shù)進(jìn)行測(cè)量:S參數(shù)、增益壓縮、輸出諧波、IMD等等。其次,與使用頻譜分析儀相比,用功率計(jì)對(duì)VNA進(jìn)行校準(zhǔn)之后,測(cè)量精度更高。后,如果使用一臺(tái)頻譜分析儀和兩個(gè)獨(dú)立的信號(hào)源進(jìn)行同樣的測(cè)試,完成測(cè)試需要花幾分鐘的時(shí)間,但使用PNA-X只需0.6秒。
相位與驅(qū)動(dòng)的關(guān)系是用PNA-X很容易完成的另一種常見(jiàn)的雙信號(hào)源測(cè)試。這個(gè)測(cè)試參數(shù)表征的是當(dāng)在相鄰?fù)ǖ阑驇獯嬖诖笮盘?hào)時(shí),放大器處理小信號(hào)的能力。測(cè)試的方法是把不同頻率的一個(gè)大信號(hào)和一個(gè)小信號(hào)合在一起然后送至被測(cè)放大器(AUT),然后在改變大信號(hào)的功率時(shí)(使用功率掃描),測(cè)量小信號(hào)的S21相位。
吳經(jīng)理先生
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